Тонкости работы со сканирующим электронным микроскопом для анализа диатомей
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) позволяет детально исследовать структуру диатомей, мельчайших одноклеточных водорослей. В данной статье рассмотрены ключевые аспекты использования СЭМ для анализа этих микроорганизмов, а также полезные советы для получения высококачественных изображений.
Перед началом работы тщательно очистите образцы диатомей, чтобы избежать загрязнения.
Микроскоп Andonstar AD209 с огромный дисплеем. Микроскоп для пайки и не только!
Используйте правильные параметры вакуума для оптимальной работы микроскопа.
Регулярно проверяйте состояние электронного источника и детекторов микроскопа.
Настройте корректно ускоряющее напряжение для получения детализированных изображений.
Используйте покрытие образцов углеродом или золотом для улучшения проводимости.
Регулируйте рабочее расстояние для достижения необходимой глубины резкости.
Осуществляйте калибровку микроскопа перед каждым новым сеансом работы.
Избегайте длительного воздействия электронного пучка на один и тот же участок образца.
При анализе изображений учитывайте возможные артефакты, вызванные подготовкой образцов.
Возможности сканирующего электронного микроскопа «Quattro S» с EDS
Записывайте все параметры съемки для возможности их воспроизведения в будущем.